首台套商品化落地！300nm分辨率+50ns响应！ImageTR系列热反射显微成像测温系统打破国外垄断，筑牢半导体热检测供应链

半导体制程迈入几十纳米量级，GaN HEMT等器件单指栅长缩至0.25μm，脉冲偏置下1μs内温度骤升超100℃，传统热检测技术深陷“空间分辨率不足、时间响应滞后、低辐射率样品适配差”的困境—金属覆盖层、半导体晶圆等低辐射率样品，更导致红外测温易受环境干扰、精度下滑。针对半导体行业的这一核心痛点，雅世恒源联合业内应用专家团队精心研制ImageTR系列热反射显微成像测温系统，作为国内首台套国产化商品化设备，以创新光反射技术破解传统检测难题，打破国外品牌垄断，为构建自主可控的半导体热检测技术提供可靠支撑。