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长波热像仪
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中波热像仪
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短波热像仪
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反射热成像测温系统
反射热成像测温系统-ImageTR
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显微红外成像测温系统
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半导体缺陷检测系统
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多光谱辐射测温仪
多光谱辐射测温仪-SPECPYRO
共
1
个产品
反射热成像测温系统-ImageTR
主要特点:
· 金属覆盖,半导体材料等均可测温
· 器件表面无需处理或喷涂
· 可生成高达 2048×2048像素的温度分布图
· 高达300nm的空间分辨率
· 高达50ns的时间分辨率,可以精确测量微秒级脉冲宽度的瞬态热分布
· 工作距离大,方便探针布设
· 界面直观友好、操控分析易于掌握
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反射热成像测温系统
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反射热成像测温系统-ImageTR
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