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反射热成像测温系统
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显微红外成像测温系统
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E-LIT半导体器件缺陷检测锁相热成像系统
E-LIT半导体器件缺陷检测锁相热成像系统
红外热像检测系统
红外检测系统
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多光谱辐射测温仪
多光谱辐射测温仪-SPECPYRO
共
1
个产品
E-LIT半导体器件缺陷(热点)检测定位系统
E-LIT是基于锁相红外热成像技术的半导体器件缺陷(热点)定位检测和失效分析解决方案。集合性能可靠的中波成像单元、高品质光学组件、以及先进的锁相分析评估软件,赋予系统检测最具挑战性缺陷的强大能力,可以在最短测量时间里对半导体的缺陷进行非接触式、无损的高效率检测,能可靠的检测出mk甚至uK的微弱温差,并显示x、y位置。 通过改变锁相频率,可以分析堆叠模组或多芯片模组,为检测和定位芯片、封装器件、甚至板载电子的缺陷提供了关键解决方案。
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E-LIT半导体器件缺陷检测锁相热成像系统
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