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显微红外成像测温系统
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E-LIT半导体器件缺陷检测锁相热成像系统
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红外热像检测系统
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多光谱辐射测温仪
多光谱辐射测温仪-SPECPYRO
共
1
个产品
lmagelR显微红外成像测温系统
ImageIR红外显微成像测温系统是基于显微红外热成像与非接触式红外测温技术,以制冷型红外热像仪、电动台架及专业软件为核心的半导体器件测温设备。可实现微米级高精度测温,非接触式测量方式可还原器件真实温度特性,覆盖稳态/瞬态工况,,为半导体器件性能评估、可靠性分析及失效机理研究提供支撑。
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显微红外成像测温系统
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